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Module : Capteurs à semi-conducteurs et applications
Cours :
Principes de base des capteurs d'images
Auteur(s) : Pierre SLANGEN - Pascal PICART (contributeur) (Ecole des Mines d'Alès & ENSIM)

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Module : Métrologie optique
Cours :
Evaluation des incertitudes de mesure
Auteur(s) : Jean Marc BRETEAU (Université du Maine - Laboratoire de Physique de l'Etat Condensé ( UMR 06087))

Présentation de la démarche à suivre pour évaluer les composantes d'une incertitude de mesure...
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