Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron

Introduction

Jens Als-Nielsen a popularisé l'utilisation des approximations de Born pour le calcul de la réflectivité spéculaire des rayons-X. Son objectif était de déterminer la distribution électronique moyenne normale à la surface d'une solution de cristal liquide nématique [ ]. L'expression reliant le profil de potentiel en profondeur à la réflectivité mesurée est :

est le facteur de structure local de l'interface et correspond à l'expression théorique de la réflectivité de Fresnel attendue pour une interface libre idéale (abrupte, plane et d'extension latérale infinie).

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