Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron

Introduction

Dans le paragraphe suivant, nous allons présenter les méthodes utilisées classiquement pour le calcul de la réflectivité spéculaire de films minces ayant des profils d'indice qui dépendent de la profondeur, c'est à dire ayant une densité de longueur de diffusion fonction de leur normale .

AccueilOutils transversesNouvelle pageInformations sur le cours (ouvrir dans une nouvelle fenêtre)Réflectivité des film minces stratifiés (selon la normale à leur surface libre, z)Formalisme matriciel optique intoduit par Abeles